电子元器件
第三方试验服务平台
可靠性试验测试验证服务
■ 完整试验项目
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高温反偏试验
HTRB
温度范围 :室温~200℃
最高反偏电压 :8000V
高温栅偏试验
HTGB
最高栅偏电压 :100V
高温高湿偏置试验
H3TRB
温度/湿度范围 :-20℃~150℃ / 25~98%RH
最高反偏电压 :2000V
高加速应力寿命试验
B-HAST(带载)
温度/湿度范围 :110℃~130℃ / 75%RH~100%RH
气压范围 :230kPa
最高反偏电压 :1000V
动态高温偏置试验
DHTRB / DHTGB
温度范围 :室温~175℃
最高偏置电压 :1000V;速率:≥100V/nS(空载)DHTRB
±30V;速率:≥3V/nS(空载)DHTGB
最高反偏电压 :25~50KHz(DHTRB);200KHz(DHTGB)
功率循环试验
(秒级/分钟级)
Power Cycling
电压 :≤20V
电流 :20~3000A
间歇工作寿命
IOL
电压 :≤40V
电流 :≤100A
温度 :室温 25℃±5℃
高温工作寿命测试
(集成电路)
HTOL-IC
电压 :0-40V 电流 :0-10.0A
温度 :室温~150℃
数字信号 :128路20M 模拟信号 :4路2M
(分立器件)
HTOL-Discrete Device
功率 :≤10W(小功率) / ≤200W(大功率)控壳温+水冷却
电流 :≤5.0A(小功率) / ≤15.0A(大功率)
电压 :≤200V
带载温度循环
PTC
功率 :0-100w
温度 :-65~180℃
快速温变 :-45~150℃
高加速应力寿命试验系统
BHAST
高温高湿偏置试验系统
高温栅偏试验系统
高温反偏试验系统
间歇工作寿命试验系统
高温工作寿命试验系统
HTOL
功率循环试验系统
恒定湿热试验
Constant Temperature&
Constant Humidity
温度 :-65℃~150℃
湿度 :30%RH~98%RH
高加速温湿度应力 (U-HAST)
Accelerated Moisture Resistance
-Unbiased
温度 :≤300℃
湿度 :85%RH
压力 :122KPa / 230kPa
温度冲击试验 (TST)
Temperature ShockTesting
低温区范围 : -20℃~-65℃
测试区范围 :-55℃~+150℃
高温区范围 : +60℃~+175℃
温度波动度 : 0.5℃
恢复时间 : 3分钟
转换时间 : ≤5秒
温度循环(TC)
Temperature Cycling
高温试验 (HTSL)
High Temperature Storage Life
低温试验 (LTSL)
Low Temperature Storage Life
温度 :≥-65℃
高压蒸煮 (PCT)
Accelerated Moisture
Resistance-UnbiasedAutoclave
温度 :121℃
湿度 :100%RH
压力 :205kPa
高加速应力试验箱
HAST
高压蒸煮试验箱
PCT
温度冲击试验箱
TST
高温高湿试验箱
HT&HH
温度循环试验箱
TC / LTSL / HTSL
高温试验箱
HTSL
设备规格 低压36V 0-2000A可选,
高压1K/50mA;2KV/10mA
3KV/10mA;6KV/10mA。
高品质控制 DPAT或者FPAT测试
限压限流 限压限流功能,
有效保护DUT及测试座
欠压 欠流 Bias check 监控保护
Low RDON 测量精度<30uv
满足SiC GaN三代半测试
测试防呆 每个lot 自动自检测试机的输出
和测量自动监控测试机的状态
校准自检 Keysight第三方仪表校
数据整合 多工位测试功能的datalog sum
mary 数据整合测试程序合并
或者整合第三方测试模块
功能开发 准响应客户需求,
进行二次开发
精度 输出或者测量 0.5%+
档位0.04%+1mv
档位0.04%+3nA
阈值电压 V(th). Vge(th)
击穿电压 BVds. BVces
传输特征 Id-Vgs.
Ic-Vge. gfs
栅极电荷 Qg. Qg(th). Qgs.
Qgd. Qsw. Qsync
导通电阻 Rds-on. Vce(sat)
栅极电阻 Rg
栅极泄漏电流 Igss, Iges
器件电容 Ciss. Coss. Coss_eff.
Crss. Cgs.Cgd. Cies.
Coes. Cres
输出泄漏电流 Idss, Ices
切换参数 Td (通)、Td(断)、Tr、
Tf;计算值。
输出特征 Id-Vds. Ic-Vce
切换损耗 特定频率上的驱动损耗
/切换损耗特定
占空比下的传导损耗
QT-4100(PowerTECH)
可测试二极管、三极管、MOSFET(SIC GaN)、 IGBT、可控硅、LDO、自触发二极管、光耦、IGBT模块等直流参数测试等。
■ 基于新一代硬件平台研发的物联平台,App.Web.Saas,客户可使用各种终端设备
远程/实时监控/各项试验数据。
终端在手,试验随时掌控