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电子元器件

第三方试验服务平台

可靠性试验测试验证服务

完整试验项目

正向功率试验 / GJB 128B-2021、 IEC 60749-34:2010、JESD22-A108G:2022
偏置耐压试验 / GJB 128B-2021、 JESD 22-A108G:2022

高温反偏试验

HTRB

温度范围           :室温~200℃

最高反偏电压    :8000V

高温栅偏试验

HTGB

温度范围           :室温~200℃

最高栅偏电压    :100V

高温高湿偏置试验

H3TRB

温度/湿度范围   :-20℃~150℃ / 25~98%RH

最高反偏电压    :2000V

高加速应力寿命试验

B-HAST(带载)

温度/湿度范围   :110℃~130℃ / 75%RH~100%RH

气压范围           :230kPa

最高反偏电压    :1000V

动态高温偏置试验

DHTRB / DHTGB

温度范围           :室温~175℃

最高偏置电压    :1000V;速率:≥100V/nS(空载)DHTRB 

                             ±30V;速率:≥3V/nS(空载)DHTGB

最高反偏电压    :25~50KHz(DHTRB);200KHz(DHTGB)














功率循环试验

(秒级/分钟级)

Power Cycling

电压         :≤20V

电流         :20~3000A

间歇工作寿命

IOL

电压         :≤40V

电流         :≤100A

温度         :室温 25℃±5℃

高温工作寿命测试

(集成电路)

HTOL-IC

电压 :0-40V       电流 :0-10.0A        

温度 :室温~150℃

数字信号 :128路20M        模拟信号 :4路2M

高温工作寿命测试

(分立器件)

HTOL-Discrete Device

功率 :≤10W(小功率) / ≤200W(大功率)控壳温+水冷却

电流 :≤5.0A(小功率) / ≤15.0A(大功率)

电压 :≤200V

带载温度循环

PTC

功率 :0-100w

温度 :-65~180℃

快速温变 :-45~150℃


高加速应力寿命试验系统

BHAST

高温高湿偏置试验系统

H3TRB

高温栅偏试验系统

HTGB

高温反偏试验系统

HTRB

间歇工作寿命试验系统

IOL

高温工作寿命试验系统

HTOL

功率循环试验系统

Power Cycling

环境类试验 / GJB128B-2021、JESD22-A104F.01:2023、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.1-2008JESD22-A106B.01:2016、GB/T 2423.3-2016 

恒定湿热试验

Constant Temperature& 

Constant Humidity

温度           :-65℃~150℃ 

湿度           :30%RH~98%RH

高加速温湿度应力 (U-HAST)

Accelerated Moisture Resistance 

-Unbiased

温度           :≤300℃

湿度           :85%RH

压力           :122KPa / 230kPa

温度冲击试验 (TST)

Temperature ShockTesting

低温区范围 : -20℃~-65℃

测试区范围 :-55℃~+150℃

高温区范围 : +60℃~+175℃

温度波动度 : 0.5℃

恢复时间 : 3分钟

转换时间 : ≤5秒


温度循环(TC)

Temperature Cycling

温度           :-65℃~150℃ 

高温试验 (HTSL)

High Temperature Storage Life

温度           :≤300℃

低温试验 (LTSL)

Low Temperature Storage Life

温度           :≥-65℃

高压蒸煮 (PCT)

Accelerated Moisture

Resistance-UnbiasedAutoclave

温度           :121℃

湿度           :100%RH

压力           :205kPa













高加速应力试验箱

HAST

高压蒸煮试验箱

PCT

温度冲击试验箱

TST

高温高湿试验箱

HT&HH

温度循环试验箱

TC / LTSL / HTSL

高温试验箱

HTSL

参数性能测试

设备规格        低压36V 0-2000A可选,

                      高压1K/50mA;2KV/10mA

                      3KV/10mA;6KV/10mA。 

高品质控制    DPAT或者FPAT测试

限压限流         限压限流功能,

                      有效保护DUT及测试座

欠压 欠流      Bias check 监控保护

Low RDON   测量精度<30uv 

                      满足SiC GaN三代半测试

测试防呆       每个lot 自动自检测试机的输出

                     和测量自动监控测试机的状态

校准自检        Keysight第三方仪表校

数据整合       多工位测试功能的datalog sum

                     mary 数据整合测试程序合并

                     或者整合第三方测试模块

功能开发        准响应客户需求,

                      进行二次开发

精度              输出或者测量 0.5%+

                     档位0.04%+1mv

                     精度 输出或者测量 0.5%+

                     档位0.04%+3nA


阈值电压               V(th). Vge(th)

击穿电压      BVds. BVces

传输特征               Id-Vgs. 

                             Ic-Vge. gfs

栅极电荷      Qg. Qg(th). Qgs. 

                    Qgd. Qsw. Qsync

导通电阻               Rds-on. Vce(sat)

栅极电阻       Rg

栅极泄漏电流        Igss, Iges

器件电容       Ciss. Coss. Coss_eff. 

                     Crss.  Cgs.Cgd. Cies.

                     Coes. Cres

输出泄漏电流        Idss, Ices

切换参数       Td (通)、Td(断)、Tr、

                     Tf;计算值。

输出特征               Id-Vds. Ic-Vce

切换损耗       特定频率上的驱动损耗

                     /切换损耗特定

                    占空比下的传导损耗


QT-4100(PowerTECH)

可测试二极管、三极管、MOSFET(SIC GaN)、 IGBT、可控硅、LDO、自触发二极管、光耦、IGBT模块等直流参数测试等。


B1506A 行业内最优的功率器件分析仪,可实现对Si、SiC、GaN等不同材料的功率器件测试和分析,最大电流可达1500A,最高电压3KV。
可靠性智能物联平台


   基于新一代硬件平台研发的物联平台,App.Web.Saas,客户可使用各种终端设备

远程/实时监控/各项试验数据


 终端在手,试验随时掌控 

经济
常备200余台常用型设备
快捷
常备8000多种配件
定制
快速开发客制老化板老化座
专业
20余载的技术积累+工程经验
专用测试治具开发设计
专用老化测试板开发
专用可靠性仪器设计开发
智慧实验室建设方案
元器件可靠性试验服务
电子元器件量产产品老化筛选